隨著密集線路PCB的高速發(fā)展，75um/75um，100um/100um線寬/線間的設(shè)計(jì)已是主流產(chǎn)品，如手機(jī)板、高檔游戲板等，在制作這些密集線路PCB過(guò)程中，線寬/線間控制極為重要。

    根據(jù)IPC標(biāo)準(zhǔn)，常規(guī)線寬/線間按±20%的公差控制，阻抗線路線寬/間按±10%的公差控制。細(xì)小的線寬/線間補(bǔ)償、干膜線寬損耗、蝕刻側(cè)蝕等，本文將對(duì)PCB制作干膜線寬損耗進(jìn)行淺析，通過(guò)正交實(shí)驗(yàn)法分析干膜線寬損耗的影響因素及控制參數(shù)。

    實(shí)驗(yàn)表明，干膜線寬損耗大小，對(duì)蝕刻過(guò)程中線寬/間的控制產(chǎn)生重要的影響，在現(xiàn)有的菲林線寬/間補(bǔ)償條件下，干膜線寬損耗越小，形成導(dǎo)線蝕刻側(cè)蝕線寬補(bǔ)償量就越大，出現(xiàn)蝕刻不凈或線幼問(wèn)題的風(fēng)險(xiǎn)就越小。通過(guò)實(shí)驗(yàn)，線寬損耗最小因素組合(平行曝光機(jī)/曝光能量7格/顯影點(diǎn)50%)。創(chuàng)盈電路在生產(chǎn)密集線路75um/75um,87.5um/87.5um,100um/100um線寬/間設(shè)計(jì)的產(chǎn)品時(shí)，嚴(yán)格依據(jù)以上實(shí)驗(yàn)結(jié)果執(zhí)行，確保了線路板線寬/間制作高品質(zhì)。